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新型同位素X熒光多元素分析儀
類別:技術資訊|專利技術  日期:2007-4-10  來源:  點擊率:18384  打印 關閉
專利申請人:中國建筑材料科學研究院水泥科學研究所
專利申請人地址:
專利所有人:白友兆; 王亞林; 王益民; 楊李鋒; 李桂蘭; 李江
代理人:江崇玉; 劉榜美
專利號:91104263.6
發布日期:1992.02.05
專利簡介:  本發明是根據新工作原理設計的新型同位素X熒光多元素分析儀。它有特殊設計的雙探頭非真空測量室,其輕元素探測器是鈹窗厚度為25μ的高分辨率封閉式正比計數管,重元素探頭為雙源探頭。同時采用了雙通路512道脈沖處理器和獨特的X熒光能譜數學解析技術,成功地解決了輕元素和相鄰元素的定量分析問題,可以測定元素周期表中包括Al、Si等輕元素在內的大多數元素。本發明在冶金、地質、礦業、化工、建材等工業領域具有廣泛的用途。
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